Abstract
利用電子顯微鏡(TEM和SEM),XRD等分析設備,探測了幾種商用氧氫氧化鋁的物理結構,並以氮氣物理吸附方法測量了它們的孔徑分佈.發現,TEM所看出的物理結構可以解釋其孔徑分佈,這些氧氫氧化鋁的孔洞來自基本晶粒間的縫隙,孔洞的大小和塊狀晶粒的大小成正比關係,P4和P2是結晶性良好的boehmite菱形大晶體;H4,H1和V1是結晶性差的pseudoboehmite基本晶粒,V1的基本小顆粒連接成皺摺網狀結構,小孔來自顆粒間隙,中大孔來自皺摺間的縫隙;而C1為amorphous結構,僅具微孔.V1的孔洞會因熱處理,酸和醇類的作用而改變:熱處理會逐漸燒結,形成了密實的塊狀晶體;水熱處理則可將網狀結構轉成晶粒較大的菱狀體,生成較大的孔洞;酸會失去大孔洞;醇會撐大網結構間的距離.