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特定功能積體電路單元參數計算之測試向量產生器
Thesis

特定功能積體電路單元參數計算之測試向量產生器

蘇怡仁
Masters, National Tsing Hua University
1990

Abstract

特定功能積體電路單元參數計算測試向量產生器資料庫延遲時間輸出訊號/降斜率各項時序限制狀態轉換圖資訊電腦電腦科學 ((ASIC)(CELL-LIBRARY)(PROPAGATION-DELAY)(TRANSITION-SLOPE)(TIMING-CONSTRAINTS)(STATE-TRANSITION-GRAPH)(CIRCUIT-SIMULATOR)(INPUT-WAVEFORM)INFORMATIONCOMPUTER((ASIC)(CELL-LIBRARY)(PROPAGATION-DELAY)(TRANSITION-SLOPE)(TIMING-CONSTRAINTS)(STATE-TRANSITION-GRAPH)(CIRCUIT-SIMULATOR)(INPUT-WAVEFORM)((ASIC)(CELL-LIBRARY)(PROPAGATION-DELAY)(TRANSITION-SLOPE)(TIMING-CONSTRAINTS)(STATE-TRANSITION-GRAPH)(CIRCUIT-SIMULATOR)(INPUT-WAVEFORM)((ASIC)(CELL-LIBRARY)(PROPAGATION-DELAY)(TRANSITION-SLOPE)(TIMING-CONSTRAINTS)(STATE-TRANSITION-GRAPH)(CIRCUIT-SIMULATOR)(INPUT-WAVEFORM)((ASIC)(CELL-LIBRARY)(PROPAGATION-DELAY)(TRANSITION-SLOPE)(TIMING-CONSTRAINTS)(STATE-TRANSITION-GRAPH)(CIRCUIT-SIMULATOR)(INPUT-WAVEFORM)INFORAMTIONCOMPUTER-SCIENCE
特定功能積體電路(ADIC)因為具有成本低、完工時間短、成功率高等優點，已成為一種成長快速的設計方式。而為了要提供ASIC設計環境，首要工作是建立基本單元之資料庫(Cell Library), 將每個設計單元之佈局(Layout), 及各項資料事先準備齊全，而利用電腦輔助設計軟體(CAD Tools) 使整個設計流程自動化。本篇論文介紹基本單元之種項參數資料，包括延遲時間(Propagation Delay) ，輸出訊號升/ 降斜率(Transition Slope)及各項時序限制(Timing Constraints), 并介紹求這些參數之方法。并提出一套測試向量產生器，其功能在於當單元資料庫建立之後，能夠完全自動進行各項參數計算之工作。此測試向量產生器運作之方式為，使用者描述其所欲求的各項參數資料。根據這些描述可以先產生出測試向量之雛型(Partial Pattern),之後再由各單元之功能表(Function Table)，及狀態轉換圖(State Transition Graph)，與測試向量雛型之間的關係，找出完整的測試向量。這些測試向量可用來輸入線路模擬器(cricuit Simulator)當作輸入波型(Imput Waveform)用來求各項參數資料。

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