Abstract
複繞射（multiple diffraction）是獲得相位訊息的方法之一。本文分別以理論及實驗的出發點，討論３光繞射（３－beam case） 時，球形晶體的界面對複繞射峰形及相位決定的影響。理論是以動力繞射理論的兩光近似法，算各方向切面對Ｘ光吸收與繞射強度的影響，以預測對相位決定造成的影響。並以半徑２mm，１mm，０．６mm的球形矽單晶作實驗，測量繞射峰形，分析相位，瞭解界面對相位決定的影響，並與理論結果互助比較。如果不考慮次級效應（secondary effect ， 例如Ｘ光，在晶體內形成駐波，激發螢光）那麼Ｘ光發生繞射時，其相位無法由兩光（twobeam）的布拉格繞射強度獲得，這個事實形成了Ｘ光物理及Ｘ光結晶學上所謂的相位問題（phase problem ）。於是歷史上發展了許多對這個問題的解決方法，包括anomalousdisopersion,heavy atom techmique,direct method,isomorphous and molecularreplacement ，我們可以由附註（１）的人名，找到有關這些方法的文獻。除了上列方法外，複繞射（multiple differaction technique） 是另一個解決相位問題，十分具有潛力的方法。本章介紹複繞射的理論基礎一動力繞射理論（theory of dynamical differaction）的發展歷史，複繞射與相位問題的關聯，以及實驗方法。本文並以動力繞射理論，嘗試瞭解當晶體形狀為一球體時，其球型界面對我們決定相位，會產出多大的影響。