Abstract
在拉曼增強散射的研究中，已經知道造成表面局部電磁場增強的金屬中，以銀的效果最好。本論文在矽與石墨兩種基底上以蒸鍍的方式鍍上一層數拾埃的銀薄膜；並使用穿隧電子掃描顯微鏡(Scanning Tunneling Microscope:STM) 加以觀察, 一方面觀察銀島的存在、大小、形狀與分布狀況, 加一方面瞭解STM 各方面的特性。在掃描矽基底上的銀薄膜，我們觀察了三種不同的厚度。有乾凈表面，二十埃和一百挨三種。我們知道乾凈矽基底表面的狀況並在鍍二十埃銀薄膜的矽基底表面上發現了銀島。在一百埃厚度的薄膜樣品上，我們則發現更大更厚的銀島。同時，我們掃描不能發生拉曼增強散射的鍍銀石墨表面。發現即使只鍍上十埃的銀薄膜，銀仍很容易在石墨上形成連續薄膜，因此，我們相信，石墨表面鍍銀不能發生增強拉曼散射必然和銀島不能生成有關。在STM 的使用上，我們擴充它的繪圖功能。並且瞭解STM 的掃描結果和各項可控制功能之間的關係。同時也適當的避免STM 在使用上的缺點，彌補如雜訊、表面傾斜、針尖熱伸縮造成圖樣的失真。