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直線型三核金屬串錯合物雙硫氰基四-(二-2-吡啶胺基)化三鎳、鈷之激態衰減機制研究
Thesis

直線型三核金屬串錯合物雙硫氰基四-(二-2-吡啶胺基)化三鎳、鈷之激態衰減機制研究

洪瑞鼎
Masters, 國立清華大學, 化學系
2007

Abstract

雙硫氰基四-(二-2-吡啶胺基)化三鎳、鈷
我們研究直線型三核金屬串錯合物-雙硫氰基四-(二-2-吡啶胺基)化三鎳、鈷之激態光物理性質。觀察Co3(dpa)4(SCN)2及Ni3(dpa)4(SCN)2的UV-VIS基態吸收光譜,發現皆具有四個吸收譜帶。前者指派為:320 nm為配位基π → π*吸收躍遷所導致;400 nm的譜帶為配位基到金屬之電荷轉移吸收峰;460 nm及560 nm則為電子在金屬d-d軌域間的躍遷。後者指派為:310 nm吸收譜帶為配位基π → π*躍遷;380 nm附近的吸收譜峰則為金屬到配位基或配位基到金屬之電荷轉移所造成;520 nm及600 nm亦為電子在金屬d-d軌域間的吸收躍遷。在瞬態吸收光譜中,我們使用激發波長330 nm,能量約為0.5 μJ,時間解析度為300 fs,進行二者之激發態能量釋解途徑研究。經實驗觀察結果,與數據的分析處理,我們推測此Co3(dpa)4(SCN)2可能的激發態能量釋解途徑為:2(π-π*) → 2ESd-d → 4ESd-d → 2GS/4GS,內轉換τ1生命期小於100 fs;τ2為系間跨越,生命期約0.8 ps;τ3則由最低激發態回到基態的過程,約15 ~ 22 ps。而就Ni3(dpa)4(SCN)2而言,我們認為其可能的激態能量衰減途徑為:(π-π*) → ESd-d → 3ESd-d → 1GS/5GS,τ1亦為電子內轉換過程,生命期介於100 ~ 200 fs;τ2生命期約3 ~ 4 ps,為系間跨越途徑;τ3為電子經系間跨越回復至基態的過程,時間為100 ~ 200 ps。此二金屬錯合物的激發態能量衰減過程,相當類似。皆極快速經內轉換途徑,由配位基之軌域躍遷到金屬的d軌域中,且最後亦皆回復至基態,但前者具spin crossover現象,故回復至基態生命期較短。由我們所推測的直線型三核過渡金屬之激發態能量衰減途徑,發現電子經激發後,皆快速躍遷到金屬的d軌域中。此結果符合金屬導線分子導電時,只須經由金屬端傳遞電子,而d軌域電子更在其中扮演著關鍵性的角色。

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