Abstract
由於相變化光碟的研究已有二十多年的歷史，且AgInSbTe相變化光碟亦已商品化，但於碟片初始化方面卻未見有詳細深入的報導，尤其是微結構的變化。本研究以不同的初始化功率對AgInSbTe相變化光喋進行初始化的工作，再以TEM觀察其微觀結構變化：於低初始化功率下，其結晶度較低且結晶相並非均勻分佈；於高初始化功率下，晶粒變多且變小，同時亦有孔洞的形成。若能選擇適中的初始化功率，較能獲得一均勻分佈的結晶相，而其寫擦特性亦最佳（訊號雜訊比=59.5dB、擦拭率=41.5dB）。此外由TEM觀察寫入的記錄點與擦拭後的情況，顯示微結構亦隨著初始化功率的變化而有所不同。