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硝酸在低溫間質(N )中的光解研究
Thesis

硝酸在低溫間質(N )中的光解研究

陳惠珍
Masters, National Tsing Hua University
1990

Abstract

霍氏紅外光譜儀間質隔離法硝酸晶格效應過氧亞硝酸紅外光譜 (FTIR)(MATRIX-ISOLATION)(HONO )(CAGE-EFFECT)(HOONO)
本篇論文乃利用結合霍氏紅外光譜儀(FTIR)和間質隔離法(matrix isolation)的技術,來研究硝酸(HONO ) 光解後的產物。而由於間質之晶格效應(cage effect) ,使得硝酸光解產生之OH和NO ,有機會再結合形成硝酸的異構物岸過氧亞硝酸(HOONO) ,因此首度獲得過氧亞硝酸的紅外光譜。在研究硝酸的光解反應中,發現硝酸在不同間質中,其ν (OH stretching)和ν (HON bending)在N 間質比在Ar間質位移了-30.5cm 和+41.7cm 之多,而其它振動模式位移則在3%以內,因此知ν 、ν 的位移應非來自一般的間質位移,而可能是硝酸與N 間質間有很強的作用力存在。此外由硝酸在N 間質,以低壓汞燈光解產生N O和HONO,而NO 在N 間質光解卻沒有產生N O 得知:N O 的形成非來自下列途徑:HNO + hv → OH + NO + hvNO + hv → NO + O( D) + hvO( D) + N → N OOH + NO → HONO而來自硝酸與N 間的強作用力。而且在此假設下,亦預期硝酸在N 間質的光解反應應小於在Ar間質時,事實顯示硝酸在Ar中光解達平衡時約光解40% 左右,而30% 中只光解了30% ;此乃硝酸在N 間質光解因受N 的吸引,需要較高的能量以去除N 的束縛力,所以光解效率遠較在Ar間質中低;而且由光解產物的不同知硝酸在Ar間質與在N 間質的光化學反應並不完全相同。

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