Abstract
1987年磁力顯微儀發明以來，表面磁學的研究越來越熱門，但其解析度一直沒有達到理論預期，所以增進解析度以期能了解更多表面磁性的訊息，成為刻不容緩的事。 本論文是在大氣中使用磁力顯微儀在鈷(Co)薄膜上研究次微米磁區結構，鈷薄膜是以濺鍍的方式在矽基板上長成，其厚度約為15nm。磁力顯微儀所用的探針在鍍有一層鈷的矽質探針，磁化方向垂直於樣品表面，其懸臂之共振頻率約為80kHz。另外我們還以原子力顯微儀在接觸模式下觀察樣品，並且將其結果與磁力顯微儀比較。 我們成功觀察到鈷薄膜上平行平面的磁區和符合理論約10nm的磁壁，並在垂直薄膜平面的方向上加數千高斯的磁場造成磁泡磁區，觀察磁區由垂直平面又回到平行平面的現象。在高粗糙度對薄膜厚度比的樣品上研究磁壁能大小對磁壁形成的影響。