Abstract
一個算術邏輯單元可以用重覆式邏輯陣列(Iterative Logic Array) 形式來表示，也就是由許多進位傳送式加法器(carry-propagate adders)排成線性矩陣。該矩陣的信號傳送方向為單一方向，而且其內部電路全為組合式電路(combinational circuits)。我們採用兩種不同的錯誤模式來測試它：一是在晶胞階層(cell level)，也就是單一晶胞式錯誤模式；另一是在閘門階層(gate level)，也就是單一固定式錯誤模式。前者是假設一個基本晶胞內的錯誤會改變它的邏輯行為，並且繼續保持其電路為原來的組合式電路。這種錯誤模式也稱為真值表錯誤模式(truth-table fault model) 。至於後者，我們針對算術邏輯單元的某一特定電路，採用單一固定式錯誤模式。在本章，我們測試可程式邏輯陣列的方法是根據交錯點錯誤模式(crosspoint fault)；交錯點錯誤是指在行與排交錯之處連接點應該有連接點而沒有，或是應該沒有連接點而有。針對進位向前看加法器當中的進位式子，我們找出它在可程式邏輯陣列結構的特性，利用此特性可以減少測試個數至線性關係。也就是說，要測試一個N 位元的進位向前看加法器, 只需要2N個測試個數。藉由M-可測性的觀念，一個蝴蝶模組只需由常數個測試個數即可。由於M-可測性所採用的錯誤模式是由函數式錯誤模式(functional fauit model)，因此錯誤函蓋率可達100%。至於接線部份，我們利以下的特性：蝴蝶模組的輸入正負改變時，會導致兩個輸出信號交換。據此可得知接線部份是否正確。