Abstract
近年來，由於半導體製程及積體電路設計技術的進步，一個複雜的系統已可以整合在一個晶片上，而此一晶片則被通稱為系統晶片(System-on-a-Chip)。而在2000 ITRS Update中有估計，內嵌式記憶體在系統晶片中所佔的比率將越來越大，所以在SOC中，記憶體的測試將成為一個重要的問題。隨著整合的模組越多及技術越高，晶片測試將會成為整體流程中的瓶頸，而如何對測試做排程，使得測試能盡量並行化的執行，以縮短測試時間將是一個重要的工作。另外由於晶片在測試的過程中經常消耗比正常工作時還多的功率，為了避免在測試過程中由於過高的測試功率消耗，對晶片本身造成損害，測試時的功率消耗將是作測試排程的一個限制條件，它將由一個系統可容許的最大功率消耗來表示。針對以上的討論，我們必須在功率的限制下作測試的排程使得測試時間能縮短，為了快速的得到排程結果，一個有效率的演算法是必須的，之前前人所提出的方法，都著眼在求得最佳值，並沒有著重在縮短計算時間且得到不錯的結果。 在這篇論文中，我們提出了一個針對內嵌式記憶體在功率限制下的測試排程演算法，我們成功的縮短計算的時間並在大部分的測試資料下，得到令人滿意的結果。我們假定所測試的內嵌式記憶都由內建自我測試電路 (BIST) 來加以測試，並且可在任意的時間點開始作測試。為了估算所提出的演算法的效率，我們完成一個測試資料產生器，透過此產生器產生的資料可交由演算法加以運算得出結果，由此知結果差最佳值多少，我們針對每一種記憶體的數目產生了多達上百筆資料。論文中所提出的演算法可針對記憶體個數少 (15個以下) 的系統作最佳化的排程，並在記憶體個數達數百個時，亦能保持不錯的排程結果，而以上的演算法執行時間都能在一小時以內完成。