Abstract
本論文研究是以規則排列之銀點陣，來模擬銀表面結構對吸附分子(如：紫晶)產生拉曼散射增強效應之影響。實驗技術上，採用電子束微影製程及微拉曼光譜量測系統，而可針對數十奈米銀點陣列上所吸附的紫晶分子，進行拉曼散射光譜之量測分析與研究。主要研究結論如下：(1)紫晶分子拉曼散射光譜與銀顆粒大小彼此間有最佳化之條件，銀顆粒陣列間距同為250nm時，顆粒直徑在60~70nm間訊號最強，而陣列間距同為200nm的結果則是直徑在105~110nm間訊號最強。；(2)銀膜厚度較薄的(約30奈米厚)，拉曼訊號較強，因其表面較粗糙所致；(3)樣品放置越久才放上紫晶分子時，因銀膜表面受硫化及氧化之影響，不僅造成紫晶分子不容易吸附且介電函數對可見光範圍而言虛部也非最小，因此降低訊號增強程度。本實驗研究發現銀膜表面的條件很重要，無論是粗糙度或是表面氧化物之形成，都會影響拉曼散射訊號增強程度，粗糙度越大的訊號增強程度亦越明顯，而表面氧化物越少，所得出的拉曼散射訊號越佳。由於這些複雜的因素，造成實驗結果與理論預測之比較甚為困難。