Abstract
將加速壽命試驗應用在電子產品，選擇適當的環境應力，加速其失效，提早了解產品的特性，既省時又經濟，是目前值得推廣的可靠度技術。從失效的資料中, 藉著相關的統計方法分析，可得到電子產品在加速環境應力下的相關可靠度訊息。如平均失效時間等；再透過適當加速模式因子的轉換，便可得到正常操作環境下的相關訊息。除此之外，可利用失效模式分析等手法，分析加速試驗所得之失效模式找出導致失效的主要元件及主要原因，回饋到設計上，提供設計人員作為修改設計的參考，以期獲得更高可靠度的產品，這才是壽命試驗最終的目的。本文第二章將介紹加速壽命試驗的理論及方法。此外，第三章我們也將介紹幾個加速壽命試驗模式，找出加速因子，透過第四章所得之數據，計算出正常操作下的產品壽命。第四章為此次壽命試驗的實驗計劃及試驗所得數據，後續之章節將針對此數據加以分析。分析的方法包含第五章之非參數法－圖形法及第六章之參數法－貝氏分析法和最大概似法。最後，第七章並針對失效樣本作分析，並找失效原因。