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英高鎳六00在硫酸鹽水溶液的高溫應力腐蝕問題之研究
Thesis

英高鎳六00在硫酸鹽水溶液的高溫應力腐蝕問題之研究

林邦敏
Masters, National Tsing Hua University
1987

Abstract

硫酸根離子敏化固溶化退火英高鎳六00硫酸鹽應力腐蝕核能發電廠 NUCLEAR-POWER-PLANTSENSITIZEDSOLUTION ANNEALING
硫酸根離子(SO□□□)是現今壓水式核能電廠二次側水質中最可能出現的污染物,它對蒸汽產生器管路材料英高鎳六00的應力腐蝕效應已漸漸受到重視。本論文針對微量硫酸根離子污染的水質,在高溫下對英高鎳六00的應力腐蝕效應做一系列測試。發現敏化(Sensitized)的英高鎳六00的U 型彎曲試片在316℃、200ppbSO□□□的水溶液中做六個月(4320hr)的長期測試後,產生許多小於一個晶粒大小的微小裂縫。而固溶化退火(Solution Annealing)及敏化兩種熱處理的雙U型彎曲試片在316℃、20ppm SO□□□加上500ppb c1 污染的水質中,測試含氯離子的複合效應及其在隙縫內(crevice )離子局部濃度提高的影響,經十四個星期(2 352hr) 的測試後,均尚未發現任何裂縫。敏化的英高鎳六00的拉伸試片在不同酸鹼度(pH3至9)的硫酸根離子水溶液中進行定值拉伸率測試的結果,應力腐融破裂(Stress Corrosion Cracking )的現象並不嚴重。硫酸根離子會加速英高鎳六00的高溫應力腐蝕破裂現象,但較S□O□□□與 S□O□□□ 的腐蝕效應輕微。

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