Abstract
第一章為光碟靜態讀/寫/擦測試系統，其為研究相變化光碟記錄膜寫擦性質的一項利器。本論文係改進研究雷射波長為780nm及660nm的靜態讀/寫/擦測試系統，改進工作包括雷射二極體光學頭設計、各級光學配件及附屬支撐座搭配考量，使整個光路能精確校準，另外撰寫自動化控制程式LabVIEW，最後對記錄層薄膜進行初步的測試。 目前一切工作皆符合目標，僅餘二項尚未克服的問題:其一為二極體雷射光學頭的第二段電路須作進一步的修改；另一為660nm系統使用之二極體雷射接腳極性與二極體電源供應器不符，日後須再購入另一新型的二極體電源供應器，方能使用。 第二章為PDS(Photothermal Deflection Spectroscopy)測試系統研究，PDS能夠有效且靈敏地量測固態薄膜材料的熱擴散率(thermal diffusivity)。本章研究係修飾這套系統使能更加穩定的量測出實驗數據，並利用較簡單的方法求出熱擴散長度。