Abstract
本實驗係採溶膠-凝膠（sol-gel）法與異質凝團（heterocoagulation）法，鍍覆氧化矽於螢光粉表面，藉由量測列塔電位（Zeta potential）、離子溶解量等方法來做為鍍覆的佐證。實驗中發現螢光粉在酸中會有釔離子溶解，鹼中有硫離子溶解，經由鍍覆氧化矽在螢光粉表面可降低此兩種離子的溶解量。此外將鍍覆氧化矽後的螢光粉在不同溫度煆燒30分鐘後再清洗，讓其與僅在80oC烘乾後清洗者比較列塔電位，發現列塔電位幾乎不受煆燒溫度影響。本實驗亦量測覆膜後螢光粉的亮度與CIE色座標。結果顯示，覆膜後之螢光粉其亮度與色座標和未覆膜者幾無差異。