Abstract
本文主要探討在衰變試驗與逐步應力加速衰變試驗中~，有關產品壽命的推估及試驗之最適設計與改善問題~。傳統上~，常採用衰變模型來進行高可靠度產品的壽命推估~，然而~，對應這些模型的產品壽命分配~，都缺乏一封閉形式 (closed form)~，使得對於產品壽命的評估須採取兩階段 (two-stage) 方法~。本文利用衰變試驗中~，其衰變速率隨機化的想法~，構建一隨試驗時間具有擴散 (diffusion) 特性~、自我相關性的衰變路徑~。在此路徑下~，產品壽命分配可恰好 (exact) 或近似的表示~，故可得一階段的壽命評估~。我們並針對逐步應力加速衰變試驗中~，(1) 樣本個數~；(2)應力個數~；(3)測量次數~；(4)測量頻率等相關變數的最適配置問題~，提出一些解決的方法~。另外~，對於高可靠度產品的壽命改善問題~，由於試驗時間較長~，很少探討有關高可靠度產品的壽命改善~，本文亦針對此種改善問題~，進行最適試驗配置的研究~。本文之方法均有實例說明~，並模擬衰變試驗資料~，進行評估方法的比較~。 1.1 研究目的及問題背景 1.2 文獻探討 1.2.1 問題描述 1.2.2 文獻探討 1.3 本文之架構第二章 隨機衰變路徑模型 2.1 前言 2.2 隨機衰變模型之建立 2.3 參數及壽命估計 2.4 模型診斷 2.4.1 漂移參數的檢定 2.4.2 獨立區間的常態檢定 2.5 LED 產品之模擬資料分析 2.6 小結第三章 SSADT 試驗之壽命推估 3.1 前言 3.2 隨機 SSADT 模型及其參數估計 3.3 模擬分析 3.4 小結第四章 SSADT 試驗之最佳設計問題 4.1 前言 4.2 問題描述 4.3 隨機 SSADT 模型 4.4 LED 產品之最佳設計 4.5 小結第五章 高可靠度產品之壽命改善研究 5.1 前言 5.2 問題描述 5.2.1 衰變試驗的部分因子設計 5.2.2 部分因子的衰變路徑分析 5.2.3 最佳化準則 5.3 日光燈之實例 5.3.1 日光燈實例之配置與分析 5.3.2 日光燈改善問題之最少成本設計 5.4 小結第六章 結論