Abstract
從過去的文獻中得知，如果在雷生衰退通道(Rician fading channel) 上使用理想的交插技術(ideal interleaving)，對於格狀調變碼(trellis modulation code) 的選用標準乃是選擇有效碼長(effective code length) 最大者；當兩個碼的有效碼長相同時，則選取距離積(coro-duct distance)較大的碼。如果沒有使用交插技術，假設通道的衰退情形相當緩慢，以致於在每一個第一錯誤事件(first error event) 中的衰退程度均相同，則選擇free distance 較大者。事實上，交插深度一定是有限的，而且究竟深度要取多少才能達到理想效果，也是很難定得出來。另外，衰退情形也不可能慢到每一個第一錯誤事件均相同。於是在固定波包(envelope)訊號的假設下，我們對於雷烈(Rayleigh)衰退通道提出了一個新的模型，將通道的變化情形用一階的馬可夫程序(first order Markov process)來模擬；並且假設為個相鄰衰退增益(fading gain) 的quadrature component呈雙變異常態分佈(bivariate normal distribution) ，其中相關係數(correlation coefficient)可以描述通道的相關性。於是我們導出了一個廣泛的成對錯誤機率(pairwise errorprobability)的上界。不管有沒有使用交插技術，或是交插深度(interleaving degree) 由有限到無限，這個上界含蓋了各種情形。如果相關係數等於1,表示通道相關性很強，所得的效能上界與從前沒有使用交插技術時所得的結果相同。當交插深度增加時，相關係數就會變小，也就是通道的相關性變小，於是效能會變好，當相關係數為零時，可得從前在理想交插技術的假設下所導出的結果。另外，如果實際通道上的相關係數可以測知的話，我們就可以估計出所需要的交插深度。由此上界我們發現在高訊號雜音比(signal-to-noise ratio) 的情形下，有效碼長在錯誤效能上仍然扮演了最重要的角色，然而第二重要的角色修改成為廣義距離積(generalized product distance)。同時，交插技術的效用也可以由此上界看出。最後我們陳示出格狀調變碼以及區塊調變碼(block modulation code) 的分析以及電腦模擬結果。