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超高真空、電子撞擊式分子磊晶成長元設計、製作以及成果
Thesis

超高真空、電子撞擊式分子磊晶成長元設計、製作以及成果

林家正
Masters, National Tsing Hua University
1989

Abstract

超高真空電子撞擊分子磊晶成長技術成長薄膜複合金屬合金超晶格晶屬蒸發元狊 MOLECULAR-BEAM-EPITAXYALLOYSUPERLATTICELN SHROUDELECTRON-BOMBARDMENTTHICKNESS-MONITOR
分子磊晶成長技術(Molecular Beam Epitaxy)主要是用來成長薄膜,可以是單一金屬所構成,也可以是複合金屬,像是合金(Alloy) 、超晶格金屬(Superlattice),甚至是結構非常複雜的半導體。本實驗室為了研究薄膜的成長、電子結構、有及相關的表面物理特性,因此需要設計一具分子磊晶成長元(Molecular Beam Epitaxy Cell) ,並且這具成長元必須具備一些更好的金屬薄膜成長能力。這具分子磊晶成長元目前已經設計製作完成。這具蒸發元具有兩組成長腔室以及蒸發源,可以成長合金或者是超晶格金屬。並且擁有液態氮卻系統(LN Shroud) ,用來帶走金屬蒸發時所產生的、多余的熱量。由於加熱金屬是用電子撞擊(Electron Bomba-rdment) 的方式,加上冷卻系統,使得金屬蒸發時的真空度達到超高真空,因此更易於成長品質更佳的金屬薄膜( 例如雜質比例更少等 )。厚度偵測儀(Thickness Moni-tor)裝置在非常靠近蒸發源的遮片上,使得蒸發元具有控制、成長微量,甚至少於一層(Sub-monolayer) 的金屬薄膜的能力。這具蒸發元和傳統的分子磊晶成長儀比較,最主要的差別在於金屬蒸發源的製作以及加熱的方式。金屬蒸發源只是用一段金屬線所構成,以取代放置在坩鍋內的金屬粉末或是金屬塊。加熱金屬捨棄透過用坩鍋直接加熱的,方法,而是運用電子撞擊的方式來間接加熱金屬。這個方法的優點是,加熱金屬時只局限於非常小的範圍之內,如此有以下兩項好處:1 非常良好的真空度:整個系統在蒸發金屬時的真空度可雙達到、維持在超高真空的程度,大約是10 托耳,較一般傳統的分子磊晶成長儀高出兩個數量級左右。因此大大地降低了薄膜中雜質的比例。2 極低的金屬薄膜成長速率:由於線狀的金屬源只有在極尖端的地方被加熱,因此只產生非常少量的分子束到達基底;最後的結果是:銅0.002A/sec,鉭o.003A/sec。遺憾的是,國內的超高真空焊接技術尚在發展階段,液態氮冷卻系統無法使用更薄的不□鋼片製造。使得冷卻效果並未達到當初預期的程度。最後,此分子磊晶成長元只花費新臺幣十萬元左右,大約是商業上的百分之一,在目前國內有科學及科學工業逐步發展的階段當中,我認為是非常值得大力推廣的!#50008876.abs#50008876.abs

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