Abstract
「軟X光發射光譜之幾何分佈之研究」實驗是採用目前在科學研究中最有力的同步輻射所產生的高亮度、高準直性及準單色性的軟X射線，加上具二維影像捕捉能力的 MCP偵測系統，來觀察照射在各種樣本後所產生之螢光的空間分佈情形，並藉由所得的影像資料加以分析討論。實驗結果發現，MCP偵測系統所獲得的二維美麗光環可能就是一般我們所認知的螢光，它並非如傳統文獻中所述的具有空間等向性，反倒是隨材料及入射光子能量的改變而有不同的風貌，甚至可利用光環來預估入射光子的能量。雖然目前我們對這與眾不同的實驗結果尚未有一完美的理論，但是經由不斷的試驗分析與討論，我們相信謎底很快的就會解開。