Abstract
為了正確模擬輻射偵檢器的有效立體角及絕對峰效率，必須要瞭解偵檢器的內部構造及尺寸大小例如：HPGe偵檢器的無感層(Dead Layer)，而模擬時輸入廠商所提供尺寸後，模擬結果與實驗值略有出入，因此本論文利用穿透式掃瞄定位法配合NaI(Tl)閃爍偵檢器對被測偵檢器做步進式掃瞄測量，而測量射源為寬100□m的 57Co線射源，每次掃瞄距離為10□m，而穿透式掃瞄定位法的控制系統組成為電腦、雙軸式電動載物台及EG&G ORTEC 994計數器，利用Visual Basic 5.0™經由RS-232連結控制載物台及計數器。另外，再利用衰減差異法及X光照相法輔助測量偵檢器的內部構造，而衰減差異法是利用241Am的鉛筆射束垂直入射進偵檢器後測量計數率，再調整其它角度入射進偵檢器後測量計數率，將兩種測量角度的差異比較計算後可得到衰減物質的厚度。最後利用X光照相法直接瞭解偵檢器大略的內部構造來輔助穿透式掃瞄定位法的結果判斷。 簡述實驗結果中的判圖方法、晶體偏斜角度、晶體前端曲率半徑及內部尺寸；實驗發現HPGe偵檢器內部尺寸中的無感層厚度及鋁殼至晶體距離明顯地與廠商提供資料相差甚遠，另外發現HPGe正面及側面對低能量射線的偵檢效率不均勻，而晶體的側面測量到導電用的金屬銦片及固定晶體的鋁罩及鋁環，這些幾何構造會影響偵檢器的側面偵檢效率，但是廠商並未提供；利用偵檢器晶體部份等比例繪圖，可求出射線的衰減比例與實驗值比較可求出晶體前端曲率半徑。 不同的偵檢器有不同的尺寸大小，而廠商所給的尺寸也不一定正確，因此若要瞭解每根偵檢器的尺寸特性必定要針對偵檢器做詳細的測量，才能將準確的偵檢器內部尺寸及幾何參數利用電腦程式模擬偵檢器的效率或有效立體角，以求模擬與實驗相互符合，如果模擬與實驗十分符合更可以利用電腦程式模擬實驗以減低實驗的時間及人員的輻射曝露，希望本論文能夠對輻射或核工領域有所貢獻。