Abstract
本論文的目的在利用傳統核儀模組，輻射源和輻射偵檢器，來自行設計輻射計測系統，其主要分成兩部份：一為輻射測厚儀的建立，另一為輻射液位儀的建立。 在測厚儀建立部份，本論文採用充氙氣的Ｘ射線比例計數器為偵檢器，射源則用活度為３．７Ｘ１０Ｅ８貝克（１０毫居里）的氪－８５貝他射源，以貝他粒子與吸收體作用後衰減原理，來對鋁箔，紙張和ＰＥ塑膠袋等三種物質進行厚度校正曲線的量測，探討不同測量位置所造成的誤差變動量，找出最佳的測量位置，使測量時由於樣品的飄動所導致之偵測誤差為最小，同時並研究各樣品不同厚度時對氪－８５射源脈高譜的影響。在建立測厚儀之前，首先利用低能光子ＨＰＧｅ和可調式Ｘ射線射源，來校正並分析氪－８５射源所放出的Ｘ射線之能量與特性。另外亦比較三種不同充氣：氬，氪，氙之Ｘ射線比例計數器，對鋂－２４１射源與氪－８５射源所測得脈高譜的差異。 在液位儀建立部份，本論文採用加鉛的塑膠閃爍體與光電倍增管搭配來做為偵檢器，射源則使用活度為１．８５ＸＥ８貝克（５毫居里）的銫－１３７加馬射線，並利用康普吞回散射原理，來對儲存筒的液面溢位與液面深度做檢測。實驗中以鐵為儲存筒筒壁的材料，而液面之改變則以ＰＥ塊的移動或升高疊加來模擬。本部份也探討當偵檢器與儲存筒筒壁之間的距離改變時，射源與筒壁間以及射源與儲存液間作用時產生之回散射量的大小，亦比較不同厚度之儲存筒筒壁，以及不同偵檢器高壓對系統的影響。