Abstract
Ag-In-Sb-Te是現今CD-RW碟片所採用的記錄層材料，在高密度記錄上應用於DVD-RW。關於Ag-In-Sb-Te的報導並不多，文獻中，CD-RW的碟片性質研究報導以CD 1X與CD 2X為主，CD 4X是最近才推出的產品，目前並無文獻報導其研究狀況；早期研究所使用的雷射脈衝波形與目前所使用的雷射脈衝波形不同，其對碟片的寫擦性質影響也有所不同；已發表的文獻，僅就寫擦參數對寫擦性質的影響做現象報導，並沒有解釋原因；亦即文獻報導顯示Ag-In-Sb-Te可擦拭型碟片的寫擦性質相關研究並不夠完整與詳盡。有鑑於此，本研究希望探討不同轉速下，寫擦參數對碟片微結構及寫擦性質的影響，並探討擦拭機制，以便有效改進碟片結構，並選擇合適的寫擦參數，以得到最佳的寫擦性質。