Abstract
加速衰變試驗（Accelerated Degradation Test；簡稱ADT）是推估高可靠度產品壽命之有效方法。透過壽命–應力衰變模型，可以將正常使用應力下之產品壽命分配推估出來。然而，此方法在不同應力下，所需要之試驗樣本數、試驗時間及花費成本頗高，實非一般生產者所能負擔，為克服上述之困難，本研究論文提出一個逐步應力衰變試驗（Step-Stress Accelerated Degradation Test；簡稱SSADT)模型。 藉由CE（Cumulative Exposure）概念及Arrhenius relationship函數，我們可以建構兩個SSADT模型，利用模型擬合產品之衰變路徑，推估出產品壽命值；其次，配合模型診斷來確認模型之正確性；再使用機率繪圖及最大概率估計（ML）法，可以很簡便地將產品之壽命分配估計出來。 最後，本論文以LED產品壽命推估之個案研究為例，介紹此方法之資料分析步驟，並對資料進行敏感度分析，提供實驗計劃規模之依據，此法將對廠商在縮短壽命試驗時間及節省試驗成本上將有幫助，同時，對於生產高科技產品之廠商，將大幅縮短研發產品導入市場之時間。