Abstract
本篇論文中，說明如何外加一偏壓使得原子力顯微鏡(Atomic Force Microscopy，AFM)的探針尖端附著上少量的金奈米顆粒，達到提高AFM探針解析度以利後續AFM在生物檢測上的應用，包含量測奈米等級之生物分子型態、單一分子內之鍵結力量、分子與分子間之作用力量、單一活體細胞之奈米力學等等。此研究中是以物理性的方式來達到修飾AFM探針，藉由改變驅動電壓的大小、觸發方式以及施加偏壓的時間長短，控制附著在AFM探針尖端上的金奈米顆粒，並利用掃瞄式電子顯微鏡（Scanning Electron Microscopy，SEM）影像、X光光電子能譜儀（X-ray Photoelection Spectroscopy，XPS）分析及螢光影像（Hamamatsu）驗證金奈米顆粒附著在探針尖端。實驗結果顯示，對單一40nm金顆粒施加single voltage pulse 10mV~50mV、pulse width 1ms~100us；對單一13nm金顆粒施加single voltage pulse 25mV~50mV、pulse width 20~200ns時，可以使金奈米顆粒附著在AFM探針尖端。