Abstract
從觀察氟離子、氯離子、溴離子、碘離子（Ｆ□，Ｃｌ□，Ｂｒ□，Ｉ□）、硫代氰酸根離子（ＳＣＮ□）、硫酸根離子（ＳＯ□□□）及呲啶分子（Ｃ□Ｈ□）在電解淬中吸附在金電極表面上的SSRS得知，若未先經過KCI 步驟處理，而直接置入如上所要觀察的離子或分子電解液中，則只能觀察到硫代氰酸根離子和呲啶分子的SERS訊號，並且SERS訊號強度較弱。若先經過KCI 步驟處理，再置入如上所要觀察的離子或分子電解液中，則除了硫代氰酸根離子及呲啶分子外，尚可觀察到氯離子、溴離子、碘離子的SERS訊號，同時硫代氰酸根離子及呲啶分子的SERS訊號也比未經過KCI 處理過而得到的SERS訊號強些。從SERS和SEM 的結果，均顯示表面的粗糙度是影響SERS訊號強度的主因。在實驗步驟裡所陳述的KCI 電解液處理金電極手續中，從SERS強度和SEM 結果得知其功能即為了使金電極達到一定的粗糙度。至少從SEM 的結果可以得知小於０．１μｍ以下的顆粒方是促使SERS強度增加的主要因素。