Abstract
傳統層析X射線攝影合成（X-ray computed tomosynthesis）應用於工業檢測下所建立之剖面影像因殘影效應（shadowing effect）的發生，無法準確判斷瑕疵或真實材料的邊界所在位置。過去對殘影效應之認知主要建立在實驗影像或模擬影像的定性觀察，本研究推導殘影效應之影響範圍公式，首先探討單一薄板之殘影效應，並建立殘影效應之等效模型，由公式面驗證過去實驗觀察而知的特性；接著利用單層薄板之結論，推廣至連續體軸對稱材料（圓球）狀之殘影效應分析，將球體內外任意點殘影效應之厚度公式化，並比較所推導之公式與實際模擬影像殘影厚度之差距，以修正其誤差。本研究亦將利用所推導之厚度公式，發展一方法以偵測瑕疵與真實材料所在位置之上下界，以解決過去無法從X射線剖面影像檢測中直接推估元件或瑕疵所在位置之問題。