Abstract
鋁╱P－型多晶鑽石膜蕭基接點在電壓來回掃瞄（正偏壓至負偏壓、再從負偏壓至正偏壓）時，產生一特有的遲滯曲線（HYSTERESIS LOOP）。在改變電壓下，需數十秒才能達穩定狀態（STEADY STATE）。這將嚴重影響鑽石膜電子元件應用。本論文利用電流－電壓－溫度、接面電容（JUNCTION CAPACITANCE）量測技術分析鋁╱P型多晶鑽石膜蕭基接點行為，並提出一高能階深層能階模型以解釋遲滯曲線現象。
- Title
- 鋁╱P－型多晶鑽石膜蕭基接面電性可靠性研究
- Translated title
- 鋁╱P－型多晶鑽石膜蕭基接面電性可靠性研究
- Creators
- 郭文暉 (Author)
- Contributors
- 黃振昌 (Advisor)
- Awarding Institution
- National Tsing Hua University; Masters
- Theses and Dissertations
- Masters, National Tsing Hua University
- Resource Type
- Thesis
- Language
- English