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開關階層電路之共時式障礙模擬
Thesis

開關階層電路之共時式障礙模擬

張正祥
Masters, National Tsing Hua University
1985

Abstract

電路階層電路障礙模擬障礙模擬器電晶體模擬電路
當超大型積體電路愈來愈複雜時,對數位電路的設計者來說,必須要有更多的電腦輔助設計軟體來幫忙,才能使整個電路的設計時間縮短;障礙模擬就是其中一項很重要又很花時間的軟體工具,主要用來幫助電路設計工程師從事測試驗證的工作。本文的目的就是採用共時式的模擬技巧,利用開關階層模式針對金氧半技術所製造的積體電路完成兩個「障礙模擬器」。採用開關階層模式可以較精確模擬金氧半積體電路,並且對非傳統式的障礙如:電晶體永遠導通或不導通,可以很容易模擬。第一個障礙模擬器採用共時式技術,速度確實較系列式模擬快很多。第二個障礙模擬器利用採用本文提出的「改進式共時式模擬」的原理,從模擬的結果可知:當所需模擬的障礙數目增多時,「改進式共時式模擬方法」會有極好的結果。文中兩個模擬器使用C語言,並且已經在NEC 個人電腦上完成,資料結構及流程圖在文中都有詳細的解說。

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