Abstract
加速壽命試驗 (ALT) 和加速衰變試驗 (ADT) 是估計高可靠度產品壽命的方法，然而在進行ALT/ADT的壽命分析時，如何選擇一個適當的Life-stress model來擬合ALT/ADT壽命資料，是品管工程師經常面臨的一重要的決策問題。傳統上，二個著名的life-stress model分別是Weibull-log linear model和Log-normal-log linear model，通常這二種模型對ALT/ADT資料的擬合度都不錯；然而，有時這二種模型所得到的產品壽命預測值差異頗大。因此本研究將引進Generalized Gamma-log linear model做為雙變數加速衰變模型，希望封ALT資料能提供一個較準確的預測值。 其次，針對LED產品之壽命推估問題，本研究透過衰變模型和Generalized Gamma-log linear model之構建，可以估計出產品在正常使用條件下的壽命值。此方法對建立一套完整高可靠度產品壽命推估，應頗有助益。