Abstract
高可靠度產品的研發可增加產品在市場中的競爭優勢，因此，如何對高可 靠度產品之平均壽命進行評估變得日益重要。一般而言，高可靠度產品的 壽命很長，在正常使用條件下，欲評估其可靠度並不容易，一解決方法為 利用加速衰變試驗(accelerated degradation test,簡稱ADT)的安排，可 在較短的時間內獲得足夠的產品衰變資料，以評估其壽命。本研究以 LED(light emitting diode)產品為例，介紹如何以電流和溫度兩項加速 變數同時對 LED產品進行加速壽命試驗，進而對所得衰變資料建立適當的 統計壽命--應力模式(statistical life -stress model)，以推估正常應 力下的產品壽命分配。此外，實驗終止時間是決策者必須考慮的重要因素 ，因此本文亦提出一決定實驗終止時間的方法~，它可以縮短實驗時間及 降低實驗成本。