Abstract
本論文主要研究以電場引發受輻射激發的物質其發光現象. 材料以對紫外 輻射具有高靈敏度的二氧化鋯為主, 經燒結後研磨成粉, 再 於butyl acetate 中, 乾燥後形成薄膜. 以往對受輻射激發物質誘導發光的方式大 部份以熱發光為主, 本實驗中嘗試建立一套以電場引發發光的真空系統, 利用電源供應器提供高壓, 以光電二極體偵測器偵測經紫外輻射照射之二 氧化鋯薄膜其發光情形.經偵測結果發現, 電場的能量可激發位於捕獲中 心的電子而產生發光, 而在電場誘發放射之後再施以電壓, 則僅餘背景輻 射. 純二氧化鋯樣本中由於發光強度太弱, 並無明顯訊號產生, 但在攙入 百分之一氧化鋅的二氧化鋯樣本中發現, 電場強度約17000000V/m 處有一 較強的發光, 由於在熱發光的研究中, 攙入氧化鋅的雜質會始位於攝氏 100 度的波峰增強三倍, 故推論17000000V/m 電場強度的發光為對應 熱 發光中攝氏100 度的波峰. 其它電場強度亦有微弱的發光出現,推測可能 與二氧化鋯其它的能帶結構有關.本文中亦討論如何改善此系統, 包括樣 本製作的改進, 樣本, 偵測器與光源位置之固定, 系統整體的電腦連線控 制, 偵測器的更換改良等.本實驗所建立的偵測系統僅為雛形, 其精密度 及樣本製作均有待改進, 唯希望此方法能對物質能帶結構的了解及輻射劑 量的測定有更大的助益.