Abstract
隨著科技的進展，電子元件的特性已漸趨於高可靠度高壽命的要求，尤其是對於新開發階段的產品，更迫切地追求高品質路線以便在高度市場競爭下得以生存；因此，如何在短期內開發並測試產品的特性，探究其可靠度訊息，益形重要，也是本人作此個案研究之動機。此次研究的目的：?將廠商的實際加速實驗資料作分析比較，並瞭解目前國內廠商在可靠度實驗方面的情形。?觀察新開發產品在高溫高壓下的壽命故障行為模式。?預估適當的產品行為模式並估計其故障時間機率函數可靠度函數及平均壽命。?強調可靠度是未來精密製造業品質管制的重要評估因素。研究的方法：?查考相關的文獻資料，瞭解加速壽命實驗之原理及相關的理論模式。?利用Weibull 機率紙的原理和線性迴歸線決定最小平方估計參數。?對於Separat-ed-Well Bimodal 的情形，可以貝氏方法估計兩者的比例。?對於不同的兩種故障機構以Competing 情形存在時，以混合式分配模式來描述，以數值方法估計相關參數。從本次研討過程中，我們可以簡單歸納下列結果：?新開發階段的產品，尚屬於實驗時期，一旦發生有不穩定狀況須立即分析並回溯到製程設計部做修正，再製造，再測試，直到穩定，高品質。?故障的行為模式，若採浴缸形模式，業者較易接受，適用於早夭期決定產品所需的Burn-in 時間。?採S-curve 模式，較符合實際且客觀值得廣為採用?以少數的資料來描述大樣本的行為有很大的限制在，故誤差相對也大，因此不易且不可冒然下肯定的結論。?在邁向更高技術的前提之下，故障元作的詳細故障分析，累進的實驗資料收集分析，歸納，也就越趨重要地位。