Abstract
本文探討電子在穿越鋁膜時，其能量損失的機率分佈。由於鋁為低原子序之物質且當入射電子之能量不高時（小於百萬電子伏），電子之能量損失方式主要為游離損失。蘭道首先針對荷電粒子穿過薄層時，因游離作用而損失能量分佈情形，加以計算；Blunck與Leisegune 則進一步地評估當電子在碰撞過程中其能量損失在束縛能大小附近所導致能量離散的影響，而將蘭道之計算加以合理地修正。吾人鑑於較低能量之電子由於複碰撞而造成徑長增加之影響很大，並且電漿激發之效應也不容忽視，而針對此兩因素對能量損失之分佈做更進一步地修正，達到更合理的驗證。