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電子顯微鏡在鈀觸媒上特性研究之應用
Thesis

電子顯微鏡在鈀觸媒上特性研究之應用

洪長春
Masters, National Tsing Hua University
1985

Abstract

電子顯微鏡鈀觸媒還原溫度
本研究利用穿透式兩電子顯微鏡(TEM )及X-射線繞射波峰變寬分析(XLBA)兩種方法研究PD/TIO2 觸媒,以氫氣還原時鈀顆粒平均大小隨還原溫度的變化情形。PD/TIO2 觸媒未還原時金屬的顆粒呈現大小不一的圓球形,經室溫還原後鈀金屬顆粒,形態從圓球形伸展開(SPREAD)成扁平方塊狀。還原溫度上升到500℃時,PD/TIO2 觸媒產生SMSI,扁平方塊狀的鈀金屬顆粒更為完全,當還原溫度達到550℃扁平方塊狀的鈀顆粒上產生很多坑洞(PITS),有裂解成較小顆粒的跡象。另外,對於PD/SIO2 觸媒,經低溫及高溫還原,鈀金屬顆粒的形態皆呈圓球形。這些現象本文將引用SMSI機構來加以討論。

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