Abstract
類比數位轉換器(Analog-to-Digital Converter )的參數一般製造廠商多 半僅提供靜態特性如轉換位元，直流電壓增益，直流偏移等項目，這些參 數對於在低頻環境下使用類比數位轉換器應已足夠。但今日由於數位信號 處理器大量使用在各電子系統上，其輸入頻率升高，動態範圍加大，因此 在輸入級的類比數位轉換器其特性往往會影響整個系統的功能，傳統的靜 態特性參數已無法顯示類比數位轉換器在高頻信號下之功能。本文是針對 類比數位轉換器的各項動態特性參數，包括有效位元(Effective Bits)、 信號雜訊比( SNR)、非線性失真(DNL, INL)及取樣時脈變異(Sampling Clock Jitt er )等，從其定義、量測方法、理論分析作一詳細之說明， 並建立一套自動量測系統來實際測量各項動態參數，經由分析量測結果可 以了解受測之類比數位轉換器的特性，此項結果可以使設計及測試工程人 員瞭解在使用類比數位轉換器時，輸入之信號頻率對類比數位轉換器特性 的影響，進而選擇適當的類比數位轉換器以提高系統功能及可靠度。而量 測取樣時脈變異則可分析由取樣脈波所產生的雜訊，以研判其對系統精確 度的影響。本文共分五章：第一章簡介；第二章測試系統設計；第三章測 試方法及原理；第四章量測結果與分析；第五章結論