Abstract
本文採用模態分析法( Modal Testing Method ) 和電子光斑影像干涉術(Electronic Speckle Pattern Interferometry, ESPI )兩種不同的實驗方法，首先研究四邊固定鋁合金平板的振動問題，並與理論解析解及有限元素法的結果相比較，以驗證實驗架設之可行性，再進一步利用該實驗架設以研究電腦顯示器中的蔭罩(Shadow Mask)元件之動態問題。模態分析法已廣泛地被運用在結構物的振動量測上，其功能主要是用來量取試片的共振頻率及其振型，藉由量測到的共振頻率可降低ESPI實驗尋找共振頻率的時間，並利用其振型輔助ESPI影像對於位移場的判斷。ESPI則可提供全域的位移場資訊，經採用本實驗室所發展的振幅變動法之ESPI，精密度可達0.2um，為一準確的光學實驗方法。蔭罩位於螢幕玻璃和電子槍中間 ，外觀為一極薄之薄膜。當電腦顯示器內產生振源和蔭罩的共振頻率接近時，易使蔭罩振動而造成顯示器影像有飄移現象。