Abstract
本篇中利用Nizin 等人所提之原理，來測理高能X 射線在物質中之原始射束劑量。本實驗我們假設理想之情況下，原始射束能被一小圓柱體屏蔽特阻擋，且適切尺寸屏蔽物，對中心軸所接受散射劑量之影響幾乎可忽略。在空氣中以小照野(6x6) 測量10MVX 射線對於聚苯乙醯固態假體之線性衰減係數，發覺在加上小屏蔽物後之線性衰減係數與不加屏蔽物相差0.5%。另外，我們以不同直徑之屏蔽物測量得10MV X射係在聚苯乙醯固態假體中之側散射電子身程約為1.7 公分。因此，實驗中所採用之屏蔽物直徑在等中心處之投影為3.4 公分。我們以10x10 平方公分照野，在2.5 至15公分深度處；以及在5 公分深度處，5x5 至25x25 平方公分照野下分別測得其原始身束劑量，同時算得SPR 之變化情形。在10x10 平方公分照野下，同最大劑量深度2.5 公分至15公分，其值由0.097 增加到0.233 ；若將所有值歸一於2.5 公分處，則散射劑量增加不到5.0%。在修正小屏蔽物對散身劑量之影響後，與蒙寺卡羅方法計算值比較，SPR 值之差異幾乎都在1%以內。實驗中，小屏蔽物對謚散射劑量的徽優因子為1.094 ，此假設在準直儀不變之條件下可以成立，但若在不同照野下，其值可能尚待更進一步的驗證。另外在1.64與2.44公分兩塊不同厚度之屏蔽物下，來測量原始劑量，結果差異小於1.5%，顯示在屏蔽物厚度不大到足以改變光子能譜之條件下，則改變屏蔽物厚度對測量結果並無太大影響。