Abstract
為了確保產品品質，如何進行一有效的篩選試驗 (ScreeningProcedure, 或稱Burn-in) 及評估產品之壽命，是所有製造商或生產者皆會面臨之一大重要決策問題。針對高可靠度產品，若存在一與產品壽命具高度相關之品質特性 (Quality Characteristic) 且假設該品質特性之衰變路徑為一Wiener過程，則我們可由成本觀點構建一套篩選試驗執行程序，以決定最適之burn-in時間。其次，當篩選試驗完成後，我們可利用逆高斯分配 (Inverse Gaussian Distribution) 來推估產品之壽命。最後，我們以LED產品之模擬衰變資料為例，說明以上整套程序之執行過程；並進行一敏感度分析以評估本論文所提篩選試驗方法之穩健性 (robustness )。