Abstract
因申請專利緣故，資料延後公開
- Title
- 高壓N型通道橫向擴散金氧半場效電晶體元件特性及熱載子導致元件退化之可靠度研究
- Translated title
- 高壓N型通道橫向擴散金氧半場效電晶體元件特性及熱載子導致元件退化之可靠度研究
- Creators
- 陳彥馨
- Contributors
- 黃智方 (Advisor)
- Awarding Institution
- 國立清華大學, 電子工程研究所; Masters
- Theses and Dissertations
- Masters, 國立清華大學, 電子工程研究所
- Language
- Traditional Chinese
- Resource Type
- Thesis
- Date published
- 2016