Thin-film dielectric characterization by bound state in the continuum in high contrast grating

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Thin-film dielectric characterization by bound state in the continuum in high contrast grating

Optics Express, 卷.32(20), 頁碼.36048-36062

2024

DOI: https://doi.org/10.1364/OE.537197

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Dielectric properties of solids

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題名: Thin-film dielectric characterization by bound state in the continuum in high contrast grating
創作者：: 存續張 (作者)
學術資源類型: 期刊文章
出版日期: 2024
出版資訊: Optics Express, 卷.32(20), 頁碼.36048-36062
語言: 英語