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使用陰影雲紋法線上即時檢測表面形貌與平面外變形之方法與系統
Patent

使用陰影雲紋法線上即時檢測表面形貌與平面外變形之方法與系統

偉中 王, 康文譯, 許軒豪, 張雅欣 and 偉中 王
01/02/2015

Abstract

本發明藉由調整不同的光源入射角度和取像角度,直接使用數位相位移式陰影雲紋法(Digital Phase-Shifting Shadow Moiré Method)系統量測未經表面處理(如噴漆處理)之透明或非透明物件之表面形貌與平面外變形,並搭配影像校正,可將非物件法線方向上所擷取之歪斜影像校正為正面影像,以精確獲得實際物件之表面形貌與平面外變形。

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