Abstract
一種應力分析方法，適於一計算機裝置執行，包含以下步驟：步驟(A)存取一光譜資料，該光譜資料是由一光學檢測系統透過光彈技術偵測一待測物件的一干涉條紋圖形所產生，該光譜資料包含至少三筆對應於相異波長的光強度資訊；步驟(B)依據每一光強度資訊計算一相應的包裹相位資訊；步驟(C)依據每一包裹相位資訊計算一相應的包裹應力資訊，每一包裹應力資訊是正比於其相應的包裹相位資訊對波長之線性函數的乘積；步驟(D)依據包裹應力資訊之間的相對關係擇定一計算關係式；及步驟(E)依據該計算關係式計算一相應於該待測物件之包裹應力資訊的應力值。