Abstract
本發明係提供一種應用於反及閘快閃記憶體之內建式自我修復方法及其系統，該系統包含一內建式自我測試電路、一內建式備用記憶體分析電路、一記憶體模組和一儲存元件。該記憶體模組包含待修復之一主記憶體和用以置換損壞記憶單元之備用記憶體。該內建式自我測試電路係用以測試該主記憶體，而該內建式多餘分析電路係分配該備用記憶體予該主記憶體。
- Title
- 應用於反及閘快閃記憶體之內建式自我修復方法及其系統
- Creators - without role
- 誠文 吳 - 國立清華大學電機資訊學院電機工程學系蕭裕穎誠文 吳 - 國立清華大學電機資訊學院電機工程學系
- Identifiers
- 9957787815006774
- Academic Unit
- College of Electrical Engineering and Computer Science
- Language
- Traditional Chinese
- Resource Type
- Patent
- Patent
- I336890
- Date application
- 21/12/2007