Abstract
一種應用通用型嵌入式裝置(Generic Embedded Device；GED)之生產製程的品質預測系統與方法。此品質預測系統至少包括：通用型嵌入式裝置、量測資料擷取計劃(Data Collection Plan)和遠端主機(Remote Host)，其中通用型嵌入式裝置係安裝於生產機台中，且連結有可插入式(Pluggable)品質預測模組，而量測資料擷取計劃係連接至量測機台，以便自量測機台蒐集產品的實際品質檢測值。可插入式品質預測模組係利用生產機台正在加工過程中的製程參數，加上最近數次的產品實際檢測值，以預測出未來生產的產品品質。