Abstract
本發明揭示一種積體電路元件檢測系統，其係在一測試機台與一積體電路元件之間傳送測試資料/訊號。積體電路元件檢測系統包含一具有一第一收發模組之測試頭；一具有一檢測單元之測試台，該檢測單元耦接於該測試頭以進行測試；一通訊模組，該通訊模組具有一第二收發模組，而可與第一收發模組以無線通訊方式進行資料交換；一積體電路元件，其具有一待測核心電路；一測試模組，其具有一耦接該核心電路及通訊模組之自我測試電路，以進行核心電路之自我測試。
- Title
- 積體電路元件檢測系統
- Creators - without role
- 誠文 吳 - 國立清華大學電機資訊學院電機工程學系邢育肇誠文 吳 - 國立清華大學電機資訊學院電機工程學系
- Identifiers
- 9957787494206774
- Academic Unit
- College of Electrical Engineering and Computer Science
- Language
- Traditional Chinese
- Resource Type
- Patent
- Patent
- I376516
- Date application
- 28/10/2008