Logo image
量化材料未知應力與殘餘應力之裝置及其方法
Patent

量化材料未知應力與殘餘應力之裝置及其方法

偉中 王, 宋泊錡, 偉中 王, 賴冠廷, 黃吉宏 and 陳維仁
21/10/2014

Abstract

一種量化材料未知應力與殘餘應力之裝置,係用以量化一待測物之未知應力與殘餘應力,該裝置包括:一光源、一偏光鏡、一第一四分之一波片、一標準試片、一第二四分之一波片、一檢光鏡、一施載單元、一光譜儀及一檢測模組;該光源係用以產生多波長或單波長之光;該偏光鏡係設置於該光源前方,且其一面係面對該光源以使光產生偏振;該第一四分之一波片係設置於該偏光鏡前方,且其一面係面對該光源以使光產生圓偏振;本發明亦揭露二量化材料未知應力與殘餘應力之方法。

Metrics

1 Record Views

Details

Logo image