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Patent
量化材料未知應力與殘餘應力之裝置及其方法
偉中 王
,
宋泊錡
,
偉中 王
,
賴冠廷
,
黃吉宏
and
陳維仁
21/10/2014
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一種量化材料未知應力與殘餘應力之裝置,係用以量化一待測物之未知應力與殘餘應力,該裝置包括:一光源、一偏光鏡、一第一四分之一波片、一標準試片、一第二四分之一波片、一檢光鏡、一施載單元、一光譜儀及一檢測模組;該光源係用以產生多波長或單波長之光;該偏光鏡係設置於該光源前方,且其一面係面對該光源以使光產生偏振;該第一四分之一波片係設置於該偏光鏡前方,且其一面係面對該光源以使光產生圓偏振;本發明亦揭露二量化材料未知應力與殘餘應力之方法。
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Title
量化材料未知應力與殘餘應力之裝置及其方法
Creators - without role
偉中 王 - 國立清華大學工學院動力機械工程學系
宋泊錡
偉中 王 - 國立清華大學工學院動力機械工程學系
賴冠廷
黃吉宏
陳維仁
Identifiers
9957787703306774
Academic Unit
Center for India Studies, Office of Academic Affairs, National Tsing Hua University
Language
Traditional Chinese
Resource Type
Patent
Patent
I457550
Date application
16/03/2012
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