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量化材料未知應力與殘餘應力之裝置及其方法
Patent

量化材料未知應力與殘餘應力之裝置及其方法

偉中 王, 宋泊錡, 偉中 王, 賴冠廷, 黃吉宏 and 陳維仁
13/08/2014

Abstract

一种量化材料未知应力与残余应力的装置,用于量化一待测物的未知应力与残余应力,该装置包括:一光源、一偏光镜、一第一四分之一波片、一标准试片、一第二四分之一波片、一检光镜、一施载单元、一光谱仪及一检测模块;该光源用于产生多波长或单波长之光;该偏光镜设置于该光源前方,且其一面面对该光源以使光产生偏振;该第一四分之一波片设置于该偏光镜前方,且其一面面对该光源以使光产生圆偏振;本发明还揭露量化材料未知应力与残余应力的方法。

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