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Patent
量化材料未知應力與殘餘應力之裝置及其方法
偉中 王
,
宋泊錡
,
偉中 王
,
賴冠廷
,
黃吉宏
and
陳維仁
13/08/2014
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一种量化材料未知应力与残余应力的装置,用于量化一待测物的未知应力与残余应力,该装置包括:一光源、一偏光镜、一第一四分之一波片、一标准试片、一第二四分之一波片、一检光镜、一施载单元、一光谱仪及一检测模块;该光源用于产生多波长或单波长之光;该偏光镜设置于该光源前方,且其一面面对该光源以使光产生偏振;该第一四分之一波片设置于该偏光镜前方,且其一面面对该光源以使光产生圆偏振;本发明还揭露量化材料未知应力与残余应力的方法。
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Title
量化材料未知應力與殘餘應力之裝置及其方法
Creators - without role
偉中 王 - 國立清華大學工學院動力機械工程學系
宋泊錡
偉中 王 - 國立清華大學工學院動力機械工程學系
賴冠廷
黃吉宏
陳維仁
Identifiers
9957787921306774
Academic Unit
Center for India Studies, Office of Academic Affairs, National Tsing Hua University
Language
Traditional Chinese
Resource Type
Patent
Patent
1460567
Date application
06/04/2012
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