專利

銅箔表面的檢測方法

衛子健, 凱寧卡, 何信瑤和周瑞昌

06/01/2025

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詳細資料

題名: 銅箔表面的檢測方法
創作者：: 衛子健 (發明人) - 國立清華大學, 半導體研究學院
凱寧卡 (發明人)
何信瑤 (發明人)
周瑞昌 (發明人)
學術資源類型: 專利
申請日期: 06/01/2025