Skip to content
Back
Patent
Open access
錯誤症狀辨識之記憶體自我診斷與修復的方法與裝置
財團法人工業技術研究院
,
吳誠文
,
黃睿夫
,
蘇錦榮
,
吳文慶
,
張永嘉
,
羅崑崙
and
林森田
01/04/2006
View
Share
Export
Abstract
Files and links (1)
Metrics
Details
Abstract
本發明提供一種錯誤症狀辨識之記憶體自我診斷與修復的方法與裝置。利用一失敗圖案辨識方法及一症狀格式,在測試記憶體的過程中去辨識記憶體之錯誤的列、行、和單一字元,並輸出錯誤的症狀資訊;再根據這些症狀資訊,利用一內建冗餘分析法則,找出空白的記憶體元素去修復錯誤的記憶包。本裝置的主要特徵為備有一個強化錯誤症狀辨識功能的序列器,和一個省時的位址重新配置電路。本發明有效減少自動測試設備所佔用時間和所需抓取的記憶體空間。也增高修復率和減少所需負擔區域的大小。
Files and links (1)
pdf
錯誤症狀辨識之記憶體自我診斷與修復的方法與裝置.pdf
Download
View
Open Access
Related links
Metrics
1
Record Views
Details
Title
錯誤症狀辨識之記憶體自我診斷與修復的方法與裝置
Creators - without role
財團法人工業技術研究院
吳誠文
黃睿夫
蘇錦榮
吳文慶
張永嘉
羅崑崙
林森田
Identifiers
9957787738106774
Academic Unit
College of Electrical Engineering and Computer Science
Language
Traditional Chinese
Resource Type
Patent
Patent
I252397; I252397
Date application
17/09/2004
Show the rest
錯誤症狀辨識之記憶體自我診斷與修復的方法與裝置.pdf
Details